模組化的FT-NIR光譜儀

NIRFlex N-500 近紅外光分析儀是一款模組化 FT-NIR 光譜儀，專為應用科學及各行業的品質控制 (QC) 和研發 (R&D) 提供可靠結果。其多樣化的測量單元與配件，確保高度靈活的性能表現。
 

優秀的性能，成就不凡的實驗結果
 

	快速、安全、簡單
	模組化系統， 可在數秒內同步提供多項參數結果 無需使用化學品與溶劑，不僅有助於降低成本，還能提升流程安全性 操作簡單直觀，帶來流暢且高效的使用體驗

高效率的實驗過程 可迅速提供分析結果，幫助快速優化流程 高性價比，維護成本低，常用備件可自行更換且無需定期校準 透過雙燈保護機制，確保連續運行並提升流程效率   可靠且靈活的夥伴 卓越的波長精度提供高度精確的分析結果 校準數據可在不同儀器間輕鬆轉移，確保一致性 透過專門的測量選項，可精確分析各類樣品，包括固體、粉末、片劑、顆粒、膏體及液體

​雙燈模式
BUCHI 在 NIR 光譜儀的可用性方面樹立了全新標準。NIR 近紅外光分析儀採用雙燈模式，當主光源發生故障時，系統會自動切換至備用燈，將儀器停機風險降至最低，不僅為備用燈的更換提供充足時間，還可確保測量工作不中斷，提升作業效率與穩定性。

BUCHI自豪的偏振干涉儀
BUCHI 成功改良了石英偏振干涉儀，採用高折射率晶體，實現最佳解析度與緊湊設計，同時保持對機械擾動的不敏感特性。其卓越性能源於雙折射晶體內的可變厚度設計，透過兩個光束的空間運動偏差與光路偏移，確保穩定性。在 Michelson 型干涉儀中，機械形變會直接影響干涉效果，而晶體干涉儀可將這種影響降低 10 至 20 倍，即使在惡劣環境中仍能維持卓越表現。

一體化專業設計
每台 BUCHI FT-NIR 近紅外光分析儀均配備多種灰色濾光片並內建波長標準，透過專門設計的軟體模組，可精確檢測波長精度、信噪比和線性度。這些測試結果構成了醫藥產業中至關重要的系統穩定性測試 (SST)，確保符合嚴格的法規要求。
​  
 

			​	​	​
產品規格	高階封裝 NIRFlex 光纖固體 (2m)	高階封裝 NIRFlex Solids	高階封裝 NIRFlex 液體	高階封裝 NIRFlex 固體透射率	高階封裝 NIRFlex 光纖液體
波數範圍	12 500 - 4000 cm -1	12 500 - 4000 cm -1	12 500 - 4000 cm -1	12 500 - 6000 cm -1	12 500 - 4000 cm -1
採樣技術	漫反射/透反射	漫反射/透反射	透光率	漫透射率	透光率
最大樣本數	1	10	6	30	1
樣品旋轉	無	是	是	是	無
光譜儀類型	FT-偏振干涉儀 帶TeO2楔塊	FT-偏振干涉儀 帶TeO2楔塊	FT-偏振干涉儀 帶TeO2楔塊	FT-偏振干涉儀 帶TeO2楔塊	FT-偏振干涉儀 帶TeO2楔塊
探測器類型	砷化鎵銦	砷化鎵銦	砷化鎵銦	砷化鎵銦	砷化鎵銦