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Microtrac 3D動態顆粒圖像分析儀

動態圖像分析方法（DIA）是一種可以生成並存儲運動顆粒的數字化圖像，並且通過分析圖像來識別顆粒特徵的分析方法。根據顆粒在圖像上佔據的位置和尺寸所覆蓋的像素，來得到顆粒的形狀信息。PARTAN 3D獨特的分析技術，除了可以記錄2D分析具有的顆粒大小和形狀參數外，還可以記錄顆粒的厚度

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實驗室顆粒圖像分析

動態圖像分析方法（DIA）是一種可以生成並存儲運動顆粒的數字化圖像，並且通過分析圖像來識別顆粒特徵的分析方法。根據顆粒在圖像上佔據的位置和尺寸所覆蓋的像素，來得到顆粒的形狀信息。

PARTAN 3D獨特的分析技術，除了可以記錄2D分析具有的顆粒大小和形狀參數外，還可以記錄顆粒的厚度信息。並且只需要一次運行即可完成顆粒的追踪功能。

強大的3D分析技術為用戶提供了無與倫比的分析能力

- 15種尺寸參數（Da，Dp，周長，長度，寬度，厚度等）

- 13種形狀參數（長/厚，長/寬，凹凸度，圓度，球形度，橢圓度，延伸度等）

- 3種表面粗糙度程度參數表徵顆粒的流動性，壓縮性，聚集程度

- 4種密度/透明度/ID參數通過測量光強度來測試物質的透明度，來判別不合規格的材料

PARTAN系列產品技術特點：

• 通過擬合係數可與實際的篩分數據匹配

• 提供多種參數過濾或篩選功能

• 報表：簡單、強大、靈活。可以生成複雜的報表作為研究之用，用戶可以選擇報表呈現的通道數以及每個通道的寬度，一目了然的QC鎖定“通過/失敗”