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Malvern G3 顆粒表徵分析儀
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※ 此產品標價為未稅價格
產品描述Malvern Morphologi G3 透過靜態影像分析法測量粒子的大小與形狀，系統完全自動化，並內建乾式樣品準備功能，是替代昂貴且耗時的手動顯微鏡測量的理想選擇。
產品特色
- 完全整合的乾式粉末分散器－整合的乾式粉末分散系統能有效縮短樣品準備時間，並顯著提高測量的重複性
- 大量統計數據－只需一鍵，即可分析數十萬個粒子
- 消除用戶偏差－標準操作程序（SOP）可針對所有儀器變量（例如焦距、光強度、放大倍率等）進行客觀記錄和控制；由單一儀器開發的方法可透過單獨文件在全球間傳輸
- 儲存高品質影像－能夠查看並記錄每個單獨粒子的影像，有助於視覺驗證破碎粒子、團聚體、細粉、外來粒子等現象的存在
- 精確、可重複且可驗證－為了確保數據的完整性，影像分析系統在每次粒子分析前後都會自動校準，使用可追溯至英國國家物理實驗室（NPL）的多間距光柵進行校準。該影像分析儀符合21CFR第11部分的要求，並提供完整的安裝確認（IQ）和操作確認（OQ）文件
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